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                                    Résultats 1 - 7 sur un total de 7 réponses

                                    • Identifier la contamination particulaire

                                      Lampe-torche UV de validation Klercide

                                      La lampe-torche UV de validation Klercide projette une lumière ultraviolette de forte intensité permettant d’identifier immédiatement la contamination particulaire. Elle peut être utilisée pour valider les procédures de nettoyage, ce qui ...

                                      SHIELD MEDICARE SA

                                    • Mesure automatique et continue du Carbone Organique Total dans l'eau pure et ultra pure.

                                      AMI LineTOC

                                      Mesure sans réactifs du COT par Oxydation UV et différentiel de conductivité   System Suitability Test (SST) répondant à la norme USP et EP 2.2.44   Vérification automatique du système   Ajout automatique et dilution des solutions ...

                                      SWAN France

                                    • Mesure de qualité de la silicone

                                      Layer Explorer

                                      Les huiles de silicone sont utilisées comme lubrifiants de surfaces des seringues préremplies et autres contenants pharmaceutiques en verre ou en plastique. Le Layer Explorer mesure la quantité, la qualité et la distribution de couches de silicone ...

                                      PMT France

                                    • Spectrométrie de masse à l'échelle de la facilité

                                      GAM 200

                                      Le GAM 200 et sa version Atex constituent une nouvelle gamme de spectromètres de masse dédiés à l’optimisation et au suivi de sécheurs sous pression atmosphérique normale ou sous vide destinés à l’industrie pharmaceutique et la chimie ...

                                      ARELCO

                                    • ToF-SIMS pour la caractérisation des matériaux

                                      Les techniques d'analyse de surfaces, dont les plus connues sont la spectroscopie photoélectronique à rayons X (XPS), la spectrométrie de masse à ionisation secondaire (SIMS) en mode dynamique (profils élémentaires) et le SIMS à temps de vol ...

                                      SCHISCHEK

                                    • Réacteur pour l'analyse du dégazage des matériaux

                                      RDT 320

                                      Les matériaux sont une source potentielle de contamination chimique pour de nombreuses applications en microélectronique, en optique ou encore dans l'aérospatiale. Dans ce contexte, la demande de caractérisation de matériaux en termes de dégazage ...

                                      TERA ENVIRONNEMENT

                                    • Des UV pour mesurer le COT

                                      TOC

                                      Ce nouvel analyseur de COT est présenté en avant-première mondiale. Il emploie une nouvelle technologie brevetée d’oxydation par UV couplée à un design de cellule original réduisant le temps d’oxydation, ce qui améliore la précision de ...

                                      GO METROLOGIE

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